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2024-11-25
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KEITHLEY2450型觸摸屏數(shù)字源表是吉時(shí)利新一代數(shù)字源表(SMU)儀器。新型的圖表化用戶界面(GUI)和電容觸摸屏技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了直觀使用和學(xué)習(xí)曲線簡便化，支持工程師和科學(xué)家掌握更迅速、工作更便捷、發(fā)明更簡單。2450是適用于多行業(yè)領(lǐng)域的源測(cè)量單元(SMU)：
ECM -150型電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是一款專為測(cè)試高壓下鐵電材料表面溫度變化的測(cè)量系統(tǒng)。通過添加在材料表面的電場(chǎng)值變化，探測(cè)材料的溫度值變化。本系統(tǒng)由真空系統(tǒng)與溫度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)組成，能適用于陶瓷等材料的電卡效應(yīng)測(cè)量。本系統(tǒng)標(biāo)配有全自動(dòng)化的程序系統(tǒng)，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)保存功能，操作快捷。
JGWDZ-1000型金屬材料高溫電阻測(cè)量系統(tǒng)
YDZ-01壓電材料電阻率測(cè)試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測(cè)量。也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。該儀器采用環(huán)形三電極，適用于一般片狀、薄膜狀樣品，可以測(cè)試壓電陶瓷材料和薄膜材料的電阻和電阻率，是研究材料的基礎(chǔ)設(shè)備。
BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)） BWGP-2000變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試樣品在低溫和高溫下光譜發(fā)射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可以用于透射、反射、吸收光譜是樣品譜與參比譜的比值，會(huì)降低原始光譜的信噪比，因此需要光譜儀具有較高的信噪比；同時(shí)為了獲取更多信息，需要光譜儀具有寬泛的光譜范圍。而熒光強(qiáng)度較弱，屬于弱光信號(hào)，為了探測(cè)熒光光譜，一般需要高靈敏度的光譜
SR-600材料雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng)是儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。對(duì)紅外材料而言,輻射率是它的一個(gè)非常重要的特征,在輻射測(cè)溫，
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