描述：GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測(cè)試夾具依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ASTM D150方法設(shè)計(jì)，采用平行板電極原理，測(cè)試電極由上下電極+保護(hù)電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護(hù)電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。

GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀介紹：

關(guān)鍵詞：高溫介電，溫譜，平行板電極原理。

GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測(cè)試夾具依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ASTM D150方法設(shè)計(jì)，采用平行板電極原理，測(cè)試電極由上下電極+保護(hù)電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護(hù)電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。

介電溫譜儀可測(cè)量陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體等塊狀材料，可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套集實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、測(cè)量、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)分析的三琦高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜的測(cè)量數(shù)據(jù)與圖形，測(cè)試頻率為DC-30MHz。

系統(tǒng)配置：

（一）、低溫模塊：

1、系統(tǒng)配置參數(shù)

系統(tǒng)采用模塊化結(jié)構(gòu)，測(cè)試主機(jī)、溫控系統(tǒng)、信號(hào)采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個(gè)分系統(tǒng)分離，易于系統(tǒng)寬展和升級(jí)。含測(cè)試計(jì)算機(jī)1臺(tái)、信號(hào)切換與控制系統(tǒng)1臺(tái)，低溫儀含四通道夾具1臺(tái)、6L液氮罐1個(gè)，測(cè)試軟件1套。

2、性能指標(biāo)參數(shù)

（1）溫度區(qū)間：低溫系統(tǒng)-185℃~260℃

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min

（4）四通道測(cè)試夾具：低溫夾具為融石英與鈹銅鍍金探針復(fù)合結(jié)構(gòu)夾具，探針壓力150g，探針直徑小于3mm，探針彈簧行程大于4mm，保證長(zhǎng)期測(cè)試穩(wěn)定性

（5）系統(tǒng)屏蔽：輸入端口采用四個(gè)BNC端口；輸出端口采用10個(gè)SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時(shí)）；四通道切換主板采用預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì)，連接線材采用射頻同軸線，保證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性

（6）測(cè)試頻率范圍：阻抗測(cè)試范圍20Hz-10MHz，LCR測(cè)試范圍20Hz-2MHz（請(qǐng)依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表）

（7）測(cè)試頻率數(shù)量：1~8個(gè)

（8）測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：4個(gè)

（9）測(cè)試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測(cè)試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）測(cè)試液氮用量：一次測(cè)試液氮使用小于1L

（12）變溫介電頻譜測(cè)試功能；變溫阻抗測(cè)試功能；掃頻測(cè)試功能

（13）軟件：采用C#語(yǔ)言編寫，可視化程度高，自動(dòng)測(cè)試。同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù)，并圖形化

（二）、高溫模塊：

1、系統(tǒng)配置參數(shù)

系統(tǒng)采用模塊化結(jié)構(gòu)，測(cè)試主機(jī)、溫控系統(tǒng)、信號(hào)采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個(gè)分系統(tǒng)分離，易于系統(tǒng)寬展和升級(jí)。含測(cè)試信號(hào)切換與控制系統(tǒng)1臺(tái)，高溫儀含四通道測(cè)試夾具1臺(tái)，測(cè)試軟件1套。

2、性能指標(biāo)參數(shù)

（1）溫度區(qū)間：室溫~1000℃

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min

（4）四通道測(cè)試夾具：高溫夾具為融石英與探針復(fù)合夾具。其中探針為氧化鋁與鉑金復(fù)合結(jié)構(gòu)，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端，探針直徑小于3.5mm。以保證長(zhǎng)期高溫測(cè)試穩(wěn)定性

（5）系統(tǒng)屏蔽：輸入端口采用四個(gè)BNC端口；輸出端口采用10個(gè)SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時(shí)）；四通道切換主板采用預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì)，連接線材采用射頻同軸線，保證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性；

（6）測(cè)試頻率范圍：阻抗測(cè)試范圍20Hz-10MHz，LCR測(cè)試范圍20Hz-2MHz（請(qǐng)依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表）

（7）測(cè)試頻率數(shù)量：1~8個(gè)

（8）測(cè)試樣品個(gè)數(shù)：4個(gè)

（9）測(cè)試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測(cè)試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）變溫介電頻譜測(cè)試功能；變溫阻抗測(cè)試功能；掃頻測(cè)試功能

（12）軟件：采用C#語(yǔ)言編寫，可視化程度高，自動(dòng)測(cè)試。同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù)，并圖形化