GQGT-600型光纖光譜儀冷熱臺 光纖光譜儀可用于變溫的光學投射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發(fā)后的光學測量。溫控軟件可集成溫度和光譜數(shù)據(jù)，并實時顯示和保存。

GPLR-600型小型光譜儀冷熱臺體積小巧、溫度范圍廣。 內(nèi)部可以增加最多四個電學探針，可實現(xiàn)在光學測量的同時可進行電信號測量。 可以增加側面支架和氣氛接頭，使用非常靈活。

BDTGP-100型半導體制冷光譜儀冷熱臺 可配合光譜儀使用，體積小變溫速度快，適合千研究二氧化鋼等半導體材料

JFQ-300型積分球冷熱臺 簡要描述: JFQ-300型積分球冷熱臺提供氣氛接頭，在積分球上變溫測試的同時可進行不同氣氛下的測試。熱臺背面通道可增加一路溫度傳感器測量樣品內(nèi)部溫度。適配窗口直徑40mm的積分球型號。 TS200N-IS，體積小巧，不依靠真空來防止樣品結霜，樣品貼近觀察裔口，安裝方便。可配套美國鉑金埃爾默的Lambda 750s使用，適用于電池電化學反應的變溫分析，

SCGP-600型兩面窗口光譜儀冷熱臺采用旋蓋結構取放樣品。變溫區(qū)間大，適合不同材料的光學性質研究。窗口可更換不同材質的窗片，同時腔體可根據(jù)光譜儀不同廠家型號訂制安裝板; 配套:A2402(光譜儀圓腔安裝板)A2404(光學平臺圓支架)A2501(XYZ軸位移臺)

TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺 　橢偏儀作為一種非破壞性、高精度的光學表征設備，廣泛應用于薄膜厚度、折射率、吸收系數(shù)等材料參數(shù)的測量。然而，橢偏儀的測量精度往往受限于外界環(huán)境的溫度變化，特別是在對溫度敏感的材料測試中，溫度的波動可能導致測量結果的不準確。因此，配備冷熱臺成為提升其性能和穩(wěn)定性的一種重要手段。本文將探討橢偏儀冷熱臺的作用、優(yōu)勢以及其在光學研究中的重要性。