JK-600CH190P4D型外部調節(jié)探針冷熱臺

JK-600GCH2190P4微型探針冷熱臺產品特點： 結構緊湊，適用于各種變溫測試 最大溫度范圍-190~600℃（選型) 氣密腔室設計，可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

JK-600CH190P8型常規(guī)探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內精準控制，與其他電學儀表（如源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。

JK-600CHG2190型光學冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。根據需要，還可以選型光反射或光透射模式。 產品需要與溫度控制器、致冷控制器（選配）配套使用，配套的上位機

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。 產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃范圍內精準控制，與其他光學設備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。